| ホーム | 製品案内 | アプリケーション・データ | サポート&サービス | お問合せ | 会社案内 |
この製品の製造・販売は終了させていただきました。
CORONA MICROPLATE READER
コロナ 吸光度測定マイクロプレートリーダ


 特長
エンドポイント/カイネテック測定
測定時間を大幅に短縮、測定間隔は任意に選択可能
攪拌機能
回転、直線、強度3段階、時間は5秒/10秒/20秒
多彩な波長選択
干渉フィルタは415、492nmを標準装備、最大で7種類
至適値測定
指定ウェルの吸光度が至適値に達した時点で全ウェル測定
データ解析ソフト
カットオフ演算、カイネテック演算、精度管理、パソコンコントロール
データ処理ソフト KF500
動作環境
対応OSWindowsXP/Vista/7(XPモード)
必要なメモリ各OSの必要、または推奨メモリ
ハードディスク5MB以上の空き領域
リーダとの接続シリアルポート
その他CDドライブ

検量線演算
  • グラフの横軸/縦軸目盛 各々直線/対数
  • ブランク    最大8 点
  • スタンダード 濃度数 最大12、リプリケート 最大6
  • 回帰式    原点を通る 直線、曲線、2 次関数
               Logit-Log / 1次、2次、3次
               Logistic / 4係数、5係数
               Spline / 1次、3次
  • NSB      B / Bo 演算
  • 陽性濃度/陰性濃度判定
  • カットオフ演算
  • 計算式選択、カットオフ判定
  • データ解析
  • データ変換   ファクタの積算/1点検量線
  • データ処理   ±判定、データ等分レベル判定
               行/列間の減算
  • 精度管理
  • 測定データの行方向
  • 列方向およびプレート全体の平均値
  • CV%およびSD
  • カイネテック演算
  • 面積(任意の測定区間の面積)
  • 平均勾配(演算開始時&上限OD指定)
  • 平均勾配(下限上限の範囲内のOD)
  • 時間(測定値の下限から上限までの変化時間)
  • 最大勾配(任意の測定区間の最大勾配)
  • PCコントロール(パソコンから測定条件の設定が可能です)
  • 測定波長選択
  • 攪拌機能
  • 測定モード


  • 仕  様 標準構成
    測光方式 8ch 上方照射下方測方式
    測定範囲 -0.5 〜 3.5Abs
    光源 ハロゲンランプ 6V-20W
    波長範囲 400 nm 〜 750nm
    干渉フィルタ 415nm , 492nm を標準装備
    他に 5枚取付可能
    直線性 ±0.5%T または ±0.005Abs
    攪拌機構 回転、直線、強度(3段階)
    時間(5/10/20秒)
    測定モード 1波長、2波長
    測定プレート 96ウェル
    測定時間 10秒/96ウェル
    測定間隔/回数 任意に選択可能  999秒/99回(最大)
    電源/消費電力 AC 100V (50/60Hz)/115VA
    外形寸法/質量 420(W)×235(H)×380(D)mm/約18kg
    本体 1
    干渉フィルタ (415nm , 492nm) 各1
    ハロゲンランプ (6V-20W) 1
    タイムラグヒューズ (2A) 2
    +ドライバ (M3用) 1
    データ処理ソフト KF500(CD-ROM) 1
    電源ケーブル 1
    取扱説明書 1
  • パソコンはお客様でご準備下さい。
  • 標準付属品の干渉フィルタが不要の時は、下記干渉フィルタと置き換えができます。ご注文時にお申付け下さい。
  • Windows版のパソコン接続用I/Fケーブル(RS232-C/クロス)はオプションです。



     オプション
    外部プリンタ
    感熱式 (80桁/112mm)
    干渉フィルタ
    405/415/450/492/530/550/570/610/630/660nm の干渉フィルタを用意しました。
    他に、特注もお受けできますのでお問い合わせください。

  • Windowsは、米国Microsoft社の登録商標です。
  • 改良のため、外観または仕様の一部を予告なく変更することがあります。


  • ▲Page Top
    Copyright(c) CORONA ELECTRIC Co.,Ltd. All Rights Reserved.